服務熱線：15766191432產品到哪里，服務到哪里 !
Related articles
2023-05-15 rigaku 的XSight™ µRapid（sCMOS 版本）二維 (2D) X 射線相機
2023-11-24 2025-03-12 日本Carton直立式40倍倍率小型金相顯微鏡M1752的應用介紹
2024-07-13 可快速測量植物根部的營養(EC)、水分和溫度數據的感測儀METPULSE
2024-06-06 
日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數測量。由于可以計算缺陷密度，因此可以應用于太陽能電池薄膜的性能改進和開發
產品型號：OKL-CPM/PDS-500型廠商性質：經銷商更新時間：2023-04-06訪 問 量：1125
立即咨詢
聯系電話：
日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型
日本oklabCPM/PDS綜合測量裝置干擾測量OKL-CPM/PDS-500型
恒定光電流法 (CPM) 和光熱偏轉光譜法 (PDS) 可用于子帶隙光吸收系數測量。
由于可以計算缺陷密度，因此可以應用于太陽能電池薄膜的性能改進和開發
使用我們的 CPM 測量方法，可以抑制干擾并計算準確的缺陷密度。
PDS 可以測量高達 0.4[eV] 的長波長
集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經濟型
測量是全自動的，沒有麻煩
我們的 CPM/PDS 組合測量設備型號 OKL-CPM/PDS-500 結構緊湊，因此可以用一臺設備測量 CPM 和 PDS。我們CPM測量的特點是采用透射光測量法，采用了排除膠片干擾影響的方法。
因此，可以計算出準確的缺陷密度。此外，PDS除了可見光之外，還有紅外光譜光柵，因此可以在長波長范圍內進行測量。安裝樣品池的工作臺配備了振動隔離功能，因為在測量過程中不需要振動。所有測量都是計算機控制的自動測量。
使用我們的 CPM 測量方法，可以抑制干擾并計算準確的缺陷密度。
PDS 可以測量高達 0.4[eV] 的長波長
集成 CPM 和 PDS 的緊湊型經濟型
測量是全自動的，沒有麻煩
我們的 CPM/PDS 組合測量設備型號 OKL-CPM/PDS-500 結構緊湊，因此可以用一臺設備測量 CPM 和 PDS。我們CPM測量的特點是采用透射光測量法，采用了排除膠片干擾影響的方法。
因此，可以計算出準確的缺陷密度。此外，PDS除了可見光之外，還有紅外光譜光柵，因此可以在長波長范圍內進行測量。安裝樣品池的工作臺配備了振動隔離功能，因為在測量過程中不需要振動。所有測量都是計算機控制的自動測量。
您的位置：
在線咨詢
返回頂部